Rasterkraftmikroskopie-Untersuchungen an Isolator/Halbleiter-Systemen : die Wachstumsmorphologie von CaF2/Si(111)

Originalpublikation

Pietsch, Holger: Rasterkraftmikroskopie-Untersuchungen an Isolator/Halbleiter-Systemen : die Wachstumsmorphologie von CaF2/Si(111). Hannover : Universität, Diss., 1997, II, 111 S.

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Publikationstyp: DoctoralThesis
Publikationsstatus: publishedVersion
Erstveröffentlichung: 1997
Schlagwörter (deutsch): Isolator/Halbleiter System, Wachstum, UHV-Rasterkraftmikroskop
Schlagwörter (englisch): Insulator/semiconductor system, growth, UHV scanning force microscopy
Fachliche Zuordnung (DDC): 530 | Physik

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