Rasterkraftmikroskopie-Untersuchungen an Isolator/Halbleiter-Systemen : die Wachstumsmorphologie von CaF2/Si(111)

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Pietsch, Holger: Rasterkraftmikroskopie-Untersuchungen an Isolator/Halbleiter-Systemen : die Wachstumsmorphologie von CaF2/Si(111). Hannover : Universität, Diss., 1997, II, 111 S.

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Zusammenfassung: 
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Publikationstyp: DoctoralThesis
Publikationsstatus: publishedVersion
Erstveröffentlichung: 1997
Die Publikation erscheint in Sammlung(en):Fakultät für Mathematik und Physik
Dissertationen

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