Rasterkraftmikroskopie-Untersuchungen an Isolator/Halbleiter-Systemen : die Wachstumsmorphologie von CaF2/Si(111)

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Pietsch, Holger: Rasterkraftmikroskopie-Untersuchungen an Isolator/Halbleiter-Systemen : die Wachstumsmorphologie von CaF2/Si(111). Hannover : Universität, Diss., 1997, II, 111 S.

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Name: 235420557.pdf
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Abstract:
[no abstract]
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Publication type: DoctoralThesis
Publishing status: publishedVersion
Publication date: 1997
Keywords german: Isolator/Halbleiter System, Wachstum, UHV-Rasterkraftmikroskop
Keywords english: Insulator/semiconductor system, growth, UHV scanning force microscopy
DDC: 530 | Physik

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