Rasterkraftmikroskopie-Untersuchungen an Isolator/Halbleiter-Systemen : die Wachstumsmorphologie von CaF2/Si(111)

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dc.identifier.uri http://dx.doi.org/10.15488/5727
dc.identifier.uri https://www.repo.uni-hannover.de/handle/123456789/5779
dc.contributor.author Pietsch, Holger ger
dc.date.accessioned 2019-11-07T16:44:01Z
dc.date.available 2019-11-07T16:44:01Z
dc.date.issued 1997
dc.identifier.citation Pietsch, Holger: Rasterkraftmikroskopie-Untersuchungen an Isolator/Halbleiter-Systemen : die Wachstumsmorphologie von CaF2/Si(111). Hannover : Universität, Diss., 1997, II, 111 S. ger
dc.description.abstract [no abstract] ger
dc.language.iso ger eng
dc.publisher Hannover : Universität
dc.rights Es gilt deutsches Urheberrecht. Das Dokument darf zum eigenen Gebrauch kostenfrei genutzt, aber nicht im Internet bereitgestellt oder an Außenstehende weitergegeben werden. ger
dc.subject Insulator/semiconductor system eng
dc.subject growth eng
dc.subject UHV scanning force microscopy eng
dc.subject Isolator/Halbleiter System ger
dc.subject Wachstum ger
dc.subject UHV-Rasterkraftmikroskop ger
dc.subject.ddc 530 | Physik ger
dc.title Rasterkraftmikroskopie-Untersuchungen an Isolator/Halbleiter-Systemen : die Wachstumsmorphologie von CaF2/Si(111) ger
dc.type doctoralThesis ger
dc.type Text ger
dc.relation.urn urn:nbn:de:gbv:089-2354205574
dc.description.version publishedVersion ger
tib.accessRights frei zug�nglich ger


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