Charakterisierung von Gate-Oxiden mittels Charge-Pumping und 1/ f-Rauschanalysen

dc.identifier.uri	http://dx.doi.org/10.15488/7237
dc.identifier.uri	https://www.repo.uni-hannover.de/handle/123456789/7290
dc.contributor.author	Krause, Gernot	ger
dc.date.accessioned	2019-11-21T11:56:39Z
dc.date.available	2019-11-21T11:56:39Z
dc.date.issued	2009
dc.identifier.citation	Krause, Gernot: Charakterisierung von Gate-Oxiden mittels Charge-Pumping und 1/ f-Rauschanalysen. Hannover : Gottfried Wilhelm Leibniz Universität, Diss., 2009, 168 S.	ger
dc.description.abstract	[no abstract]	ger
dc.language.iso	ger	eng
dc.publisher	Hannover : Gottfried Wilhelm Leibniz Universität Hannover
dc.rights	Es gilt deutsches Urheberrecht. Das Dokument darf zum eigenen Gebrauch kostenfrei genutzt, aber nicht im Internet bereitgestellt oder an Außenstehende weitergegeben werden.	ger
dc.subject	Charge-Pumping	ger
dc.subject	1 / f-Rauschen	ger
dc.subject	Fowler-Nordheim-Stress	ger
dc.subject	Gate-Oxid	ger
dc.subject.ddc	530 \| Physik	ger
dc.title	Charakterisierung von Gate-Oxiden mittels Charge-Pumping und 1/ f-Rauschanalysen	ger
dc.type	DoctoralThesis	ger
dc.type	Text	ger
dc.relation.urn	urn:nbn:de:gbv:089-5938743827
dcterms.extent	168 S.
dc.description.version	publishedVersion	ger
tib.accessRights	frei zug�nglich	ger

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Format: PDF

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