Charakterisierung von Gate-Oxiden mittels Charge-Pumping und 1/ f-Rauschanalysen

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Krause, Gernot: Charakterisierung von Gate-Oxiden mittels Charge-Pumping und 1/ f-Rauschanalysen. Hannover : Gottfried Wilhelm Leibniz Universität, Diss., 2009, 168 S.

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[no abstract]
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Publication type: DoctoralThesis
Publishing status: publishedVersion
Publication date: 2009
Keywords german: Charge-Pumping, 1 / f-Rauschen, Fowler-Nordheim-Stress, Gate-Oxid
DDC: 530 | Physik

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