Charakterisierung von Gate-Oxiden mittels Charge-Pumping und 1/ f-Rauschanalysen

Show simple item record

dc.identifier.uri http://dx.doi.org/10.15488/7237
dc.identifier.uri https://www.repo.uni-hannover.de/handle/123456789/7290
dc.contributor.author Krause, Gernot ger
dc.date.accessioned 2019-11-21T11:56:39Z
dc.date.available 2019-11-21T11:56:39Z
dc.date.issued 2009
dc.identifier.citation Krause, Gernot: Charakterisierung von Gate-Oxiden mittels Charge-Pumping und 1/ f-Rauschanalysen. Hannover : Gottfried Wilhelm Leibniz Universität, Diss., 2009, 168 S. ger
dc.description.abstract [no abstract] ger
dc.language.iso ger eng
dc.publisher Hannover : Gottfried Wilhelm Leibniz Universität Hannover
dc.rights Es gilt deutsches Urheberrecht. Das Dokument darf zum eigenen Gebrauch kostenfrei genutzt, aber nicht im Internet bereitgestellt oder an Außenstehende weitergegeben werden. ger
dc.subject Charge-Pumping ger
dc.subject 1 / f-Rauschen ger
dc.subject Fowler-Nordheim-Stress ger
dc.subject Gate-Oxid ger
dc.subject.ddc 530 | Physik ger
dc.title Charakterisierung von Gate-Oxiden mittels Charge-Pumping und 1/ f-Rauschanalysen ger
dc.type doctoralThesis ger
dc.type Text ger
dc.relation.urn urn:nbn:de:gbv:089-5938743827
dc.description.version publishedVersion ger
tib.accessRights frei zug�nglich ger


Files in this item

This item appears in the following Collection(s):

Show simple item record

 

Search the repository


Browse

My Account

Usage Statistics