Charakterisierung von Gate-Oxiden mittels Charge-Pumping und 1/ f-Rauschanalysen

Originalpublikation

Krause, Gernot: Charakterisierung von Gate-Oxiden mittels Charge-Pumping und 1/ f-Rauschanalysen. Hannover : Gottfried Wilhelm Leibniz Universität, Diss., 2009, 168 S.

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Publikationstyp: DoctoralThesis
Publikationsstatus: publishedVersion
Erstveröffentlichung: 2009
Schlagwörter (deutsch): Charge-Pumping, 1 / f-Rauschen, Fowler-Nordheim-Stress, Gate-Oxid
Fachliche Zuordnung (DDC): 530 | Physik

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