Müllerwiebus, Viki: Systematische Testlücke bei Einstrahlverfahren auf IC-Ebene und deren Behebung. In: emv : Internationale Fachmesse und Kongress für Elektromagnetische Verträglichkeit, Düsseldorf, 2018, S. 608-615
Zusammenfassung: |
Auf IC-Ebene ist bei den einstrahlenden EMV-Tests durch bisher fehlende Einstrahlmöglichkeiten mit E-Feld-Orientierung parallel zur Massefläche des ICs eine systematische Testlücke vorhanden. Diese tritt bereits deutlich unter 1 GHz auf, lediglich bei niedrigen Testfrequenzen im unteren MHz-Bereich nicht. Die Situation zur frühzeitigen Erkennung von EMV-Problemen während der IC-Entwicklung ist unzureichend. Im Bericht wurde detailliert dargelegt, ab welchen Frequenzgrenzen diese systematische Testlücke auftritt sowie ein Testaufbau vorgestellt zum Beheben dieser Testlücke bereits auf IC-Ebene.
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Lizenzbestimmungen: |
CC BY 3.0 DE - https://creativecommons.org/licenses/by/3.0/de/
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Publikationstyp: |
BookPart |
Publikationsstatus: |
publishedVersion |
Erstveröffentlichung: |
2018 |
Schlagwörter (deutsch): |
Prüffrequenz, elektromagnetische Verträglichkeit, Frequenz, integrierte Schaltung, Frequenzgrenze
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Fachliche Zuordnung (DDC): |
600 | Technik, 621,3 | Elektrotechnik, Elektronik
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Kontrollierte Schlagwörter: |
Konferenzschrift
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