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Originalpublikation
Müllerwiebus, Viki: Systematische Testlücke bei Einstrahlverfahren auf IC-Ebene und deren Behebung. In: emv : Internationale Fachmesse und Kongress für Elektromagnetische Verträglichkeit, Düsseldorf, 2018, S. 608-615
Version im Repositorium
Zum Zitieren der Version im Repositorium verwenden Sie bitte diesen DOI:
https://doi.org/10.15488/4394
| Zusammenfassung: | |
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Auf IC-Ebene ist bei den einstrahlenden EMV-Tests durch bisher fehlende Einstrahlmöglichkeiten mit E-Feld-Orientierung parallel zur Massefläche des ICs eine systematische Testlücke vorhanden. Diese tritt bereits deutlich unter 1 GHz auf, lediglich bei niedrigen Testfrequenzen im unteren MHz-Bereich nicht. Die Situation zur frühzeitigen Erkennung von EMV-Problemen während der IC-Entwicklung ist unzureichend. Im Bericht wurde detailliert dargelegt, ab welchen Frequenzgrenzen diese systematische Testlücke auftritt sowie ein Testaufbau vorgestellt zum Beheben dieser Testlücke bereits auf IC-Ebene.
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| Lizenzbestimmungen: | CC BY 3.0 DE - https://creativecommons.org/licenses/by/3.0/de/ |
| Publikationstyp: | BookPart |
| Publikationsstatus: | publishedVersion |
| Erstveröffentlichung: | 2018 |
| Schlagwörter (deutsch): | Prüffrequenz, elektromagnetische Verträglichkeit, Frequenz, integrierte Schaltung, Frequenzgrenze |
| Fachliche Zuordnung (DDC): | 600 | Technik, 621,3 | Elektrotechnik, Elektronik |
| Kontrollierte Schlagwörter: | Konferenzschrift |