Systematische Testlücke bei Einstrahlverfahren auf IC-Ebene und deren Behebung

Müllerwiebus, Viki

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EMV 2018 Düsseldorf
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dc.identifier.uri	http://dx.doi.org/10.15488/4394
dc.identifier.uri	https://www.repo.uni-hannover.de/handle/123456789/4433
dc.contributor.author	Müllerwiebus, Viki
dc.date.accessioned	2019-01-24T06:11:22Z
dc.date.available	2019-01-24T06:11:22Z
dc.date.issued	2018
dc.identifier.citation	Müllerwiebus, Viki: Systematische Testlücke bei Einstrahlverfahren auf IC-Ebene und deren Behebung. In: emv : Internationale Fachmesse und Kongress für Elektromagnetische Verträglichkeit, Düsseldorf, 2018, S. 608-615	ger
dc.description.abstract	Auf IC-Ebene ist bei den einstrahlenden EMV-Tests durch bisher fehlende Einstrahlmöglichkeiten mit E-Feld-Orientierung parallel zur Massefläche des ICs eine systematische Testlücke vorhanden. Diese tritt bereits deutlich unter 1 GHz auf, lediglich bei niedrigen Testfrequenzen im unteren MHz-Bereich nicht. Die Situation zur frühzeitigen Erkennung von EMV-Problemen während der IC-Entwicklung ist unzureichend. Im Bericht wurde detailliert dargelegt, ab welchen Frequenzgrenzen diese systematische Testlücke auftritt sowie ein Testaufbau vorgestellt zum Beheben dieser Testlücke bereits auf IC-Ebene.	eng
dc.language.iso	ger
dc.publisher	Frankfurt/Main : mesago
dc.relation.ispartof	https://doi.org/10.15488/4320
dc.relation.ispartofseries	emv : Internationale Fachmesse und Kongress für Elektromagnetische Verträglichkeit, Düsseldorf, 2018
dc.rights	CC BY 3.0 DE
dc.rights.uri	https://creativecommons.org/licenses/by/3.0/de/
dc.subject	Prüffrequenz	ger
dc.subject	elektromagnetische Verträglichkeit	ger
dc.subject	Frequenz	ger
dc.subject	integrierte Schaltung	ger
dc.subject	Frequenzgrenze	ger
dc.subject.classification	Konferenzschrift	ger
dc.subject.ddc	600 \| Technik	ger
dc.subject.ddc	621,3 \| Elektrotechnik, Elektronik	ger
dc.title	Systematische Testlücke bei Einstrahlverfahren auf IC-Ebene und deren Behebung
dc.type	BookPart
dc.type	Text
dc.relation.isbn	978-3-95735-077-0
dc.bibliographicCitation.firstPage	608
dc.bibliographicCitation.lastPage	615
dc.description.version	publishedVersion
tib.accessRights	frei zug�nglich