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Downloadstatistik des Dokuments (Auswertung nach COUNTER):
Müllerwiebus, Viki: Systematische Testlücke bei Einstrahlverfahren auf IC-Ebene und deren Behebung. In: emv : Internationale Fachmesse und Kongress für Elektromagnetische Verträglichkeit, Düsseldorf, 2018, S. 608-615
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Summe der Downloads: 241
| Zusammenfassung: | |
Auf IC-Ebene ist bei den einstrahlenden EMV-Tests durch bisher fehlende Einstrahlmöglichkeiten mit E-Feld-Orientierung parallel zur Massefläche des ICs eine systematische Testlücke vorhanden. Diese tritt bereits deutlich unter 1 GHz auf, lediglich bei niedrigen Testfrequenzen im unteren MHz-Bereich nicht. Die Situation zur frühzeitigen Erkennung von EMV-Problemen während der IC-Entwicklung ist unzureichend. Im Bericht wurde detailliert dargelegt, ab welchen Frequenzgrenzen diese systematische Testlücke auftritt sowie ein Testaufbau vorgestellt zum Beheben dieser Testlücke bereits auf IC-Ebene. | |
| Lizenzbestimmungen: | CC BY 3.0 DE |
| Publikationstyp: | BookPart |
| Publikationsstatus: | publishedVersion |
| Erstveröffentlichung: | 2018 |
| Die Publikation erscheint in Sammlung(en): | EMV 2018 Düsseldorf |
Verteilung der Downloads über den gewählten Zeitraum:
Herkunft der Downloads nach Ländern:
| Pos. | Land | Downloads | ||
|---|---|---|---|---|
| Anzahl | Proz. | |||
| 1 |  |
Germany | 178 | 73,86% |
| 2 |  |
United States | 22 | 9,13% |
| 3 |  |
Israel | 7 | 2,90% |
| 4 |  |
China | 7 | 2,90% |
| 5 |  |
Russian Federation | 6 | 2,49% |
| 6 |  |
Czech Republic | 6 | 2,49% |
| 7 |  |
India | 2 | 0,83% |
| 8 |  |
United Kingdom | 2 | 0,83% |
| 9 |  |
France | 2 | 0,83% |
| 10 |  |
Austria | 2 | 0,83% |
| andere | 7 | 2,90% | ||
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