Spurenbestimmung metallischer Verunreinigungen in [gamma]TiAl und den hochreinen Ausgangsmaterialien Al und Ti mittels ICP-Massenspektrometrie

Originalpublikation

Majewski, Tom: Spurenbestimmung metallischer Verunreinigungen in [gamma]TiAl und den hochreinen Ausgangsmaterialien Al und Ti mittels ICP-Massenspektrometrie. Hannover : Universität, Diss., 2002, 207 S.

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Publikationstyp: DoctoralThesis
Publikationsstatus: publishedVersion
Erstveröffentlichung: 2002
Schlagwörter (englisch): ICP-MS, gamma-TiAl, gamma titanium aluminides, aluminium, titanium, ultra trace analysis, trace matrix separation technique
Fachliche Zuordnung (DDC): 540 | Chemie

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