Spurenbestimmung metallischer Verunreinigungen in [gamma]TiAl und den hochreinen Ausgangsmaterialien Al und Ti mittels ICP-Massenspektrometrie

dc.identifier.uri	http://dx.doi.org/10.15488/6062
dc.identifier.uri	https://www.repo.uni-hannover.de/handle/123456789/6114
dc.contributor.author	Majewski, Tom	ger
dc.date.accessioned	2019-11-12T13:58:05Z
dc.date.available	2019-11-12T13:58:05Z
dc.date.issued	2002
dc.identifier.citation	Majewski, Tom: Spurenbestimmung metallischer Verunreinigungen in [gamma]TiAl und den hochreinen Ausgangsmaterialien Al und Ti mittels ICP-Massenspektrometrie. Hannover : Universität, Diss., 2002, 207 S.	ger
dc.description.abstract	[no abstract]	ger
dc.language.iso	ger	eng
dc.publisher	Hannover : Universität
dc.rights	Es gilt deutsches Urheberrecht. Das Dokument darf zum eigenen Gebrauch kostenfrei genutzt, aber nicht im Internet bereitgestellt oder an Außenstehende weitergegeben werden.	ger
dc.subject	ICP-MS	eng
dc.subject	gamma-TiAl	eng
dc.subject	gamma titanium aluminides	eng
dc.subject	aluminium	eng
dc.subject	titanium	eng
dc.subject	ultra trace analysis	eng
dc.subject	trace matrix separation technique	eng
dc.subject.ddc	540 \| Chemie	ger
dc.title	Spurenbestimmung metallischer Verunreinigungen in [gamma]TiAl und den hochreinen Ausgangsmaterialien Al und Ti mittels ICP-Massenspektrometrie	ger
dc.type	DoctoralThesis	ger
dc.type	Text	ger
dc.relation.urn	urn:nbn:de:gbv:089-3492202710
dcterms.extent	207 S.
dc.description.version	publishedVersion	ger
tib.accessRights	frei zug�nglich	ger

Name: 349220271.pdf

Größe: 1.963Mb

Format: PDF

Die Publikation erscheint in Sammlung(en):

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