Spurenbestimmung metallischer Verunreinigungen in [gamma]TiAl und den hochreinen Ausgangsmaterialien Al und Ti mittels ICP-Massenspektrometrie

Show simple item record

dc.identifier.uri http://dx.doi.org/10.15488/6062
dc.identifier.uri https://www.repo.uni-hannover.de/handle/123456789/6114
dc.contributor.author Majewski, Tom ger
dc.date.accessioned 2019-11-12T13:58:05Z
dc.date.available 2019-11-12T13:58:05Z
dc.date.issued 2002
dc.identifier.citation Majewski, Tom: Spurenbestimmung metallischer Verunreinigungen in [gamma]TiAl und den hochreinen Ausgangsmaterialien Al und Ti mittels ICP-Massenspektrometrie. Hannover : Universität, Diss., 2002, 207 S. ger
dc.description.abstract [no abstract] ger
dc.language.iso ger eng
dc.publisher Hannover : Universität
dc.rights Es gilt deutsches Urheberrecht. Das Dokument darf zum eigenen Gebrauch kostenfrei genutzt, aber nicht im Internet bereitgestellt oder an Außenstehende weitergegeben werden. ger
dc.subject ICP-MS eng
dc.subject gamma-TiAl eng
dc.subject gamma titanium aluminides eng
dc.subject aluminium eng
dc.subject titanium eng
dc.subject ultra trace analysis eng
dc.subject trace matrix separation technique eng
dc.subject.ddc 540 | Chemie ger
dc.title Spurenbestimmung metallischer Verunreinigungen in [gamma]TiAl und den hochreinen Ausgangsmaterialien Al und Ti mittels ICP-Massenspektrometrie ger
dc.type doctoralThesis ger
dc.type Text ger
dc.relation.urn urn:nbn:de:gbv:089-3492202710
dc.description.version publishedVersion ger
tib.accessRights frei zug�nglich ger


Files in this item

This item appears in the following Collection(s):

Show simple item record

 

Search the repository


Browse

My Account

Usage Statistics