Simulatorische Optimierung von Leiterstrukturen in Hochstromprüfanlagen

Hackl, Yves; Scholz, Peter

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dc.identifier.uri	http://dx.doi.org/10.15488/5300
dc.identifier.uri	https://www.repo.uni-hannover.de/handle/123456789/5347
dc.contributor.author	Hackl, Yves
dc.contributor.author	Scholz, Peter
dc.date.accessioned	2019-08-29T11:52:57Z
dc.date.available	2019-08-29T11:52:57Z
dc.date.issued	2016
dc.identifier.citation	Hackl, Yves; Scholz, Peter: Simulatorische Optimierung von Leiterstrukturen in Hochstromprüfanlagen. In: emv : Internationale Fachmesse und Kongress für Elektromagnetische Verträglichkeit. Aachen : Apprimus, 2016, S. 463-470	ger
dc.description.abstract	Der Beitrag beschreibt die geometrische Optimierung hinsichtlich einer Minimierung der Impedanz und der Bestimmung abstoßender Kräfte von Leiterstrukturen einer akkreditierten Hochstromprüfanlage mittels elektromagnetischer Feldsimulation. Es wird die Methode der partiellen Netzwerkelemente vorgestellt und zur systematischen Optimierung eingesetzt.	ger
dc.language.iso	ger
dc.publisher	Aachen : Apprimus
dc.relation.ispartof	https://doi.org/10.15488/5189
dc.rights	CC BY 3.0 DE
dc.rights.uri	https://creativecommons.org/licenses/by/3.0/de/
dc.subject	Hochstromprüfanlage	ger
dc.subject	Optimierung	ger
dc.subject	Leiterstrukturen	ger
dc.subject.classification	Konferenzschrift	ger
dc.subject.ddc	600 \| Technik	ger
dc.subject.ddc	621,3 \| Elektrotechnik, Elektronik	ger
dc.title	Simulatorische Optimierung von Leiterstrukturen in Hochstromprüfanlagen
dc.type	BookPart
dc.type	Text
dc.relation.isbn	978-3-86359-396-4
dc.bibliographicCitation.firstPage	463
dc.bibliographicCitation.lastPage	470
dc.description.version	publishedVersion
tib.accessRights	frei zug�nglich