Hackl, Yves; Scholz, Peter: Simulatorische Optimierung von Leiterstrukturen in Hochstromprüfanlagen. In: emv : Internationale Fachmesse und Kongress für Elektromagnetische Verträglichkeit. Aachen : Apprimus, 2016, S. 463-470
Zusammenfassung: | |
Der Beitrag beschreibt die geometrische Optimierung hinsichtlich einer Minimierung der Impedanz und der Bestimmung abstoßender Kräfte von Leiterstrukturen einer akkreditierten Hochstromprüfanlage mittels elektromagnetischer Feldsimulation. Es wird die Methode der partiellen Netzwerkelemente vorgestellt und zur systematischen Optimierung eingesetzt. | |
Lizenzbestimmungen: | CC BY 3.0 DE |
Publikationstyp: | BookPart |
Publikationsstatus: | publishedVersion |
Erstveröffentlichung: | 2016 |
Die Publikation erscheint in Sammlung(en): | EMV 2016 Düsseldorf |
Pos. | Land | Downloads | ||
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Anzahl | Proz. | |||
1 | Germany | 239 | 77,10% | |
2 | United States | 37 | 11,94% | |
3 | Czech Republic | 7 | 2,26% | |
4 | China | 7 | 2,26% | |
5 | Israel | 4 | 1,29% | |
6 | Iran, Islamic Republic of | 3 | 0,97% | |
7 | France | 2 | 0,65% | |
8 | Austria | 2 | 0,65% | |
9 | Venezuela | 1 | 0,32% | |
10 | No geo information available | 1 | 0,32% | |
andere | 7 | 2,26% |
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