Einsatz eines iterativen Nahfeldscanverfahrens zur Ermittlung der Stromverteilung von Leiterplatten anhand eines Multi-Dipol-Modells

Abstract

Die Untersuchung des magnetischen Nahfeldes stellt eine Möglichkeit dar, Aussagen über das EMV-Verhalten zu treffen. So können im einfachsten Fall Bereiche mit hohen Feldstärken lokalisiert werden. Über eine Nachbearbeitung der Messdaten können aber auch Aussagen über die Abstrahlung getroffen werden. Weiterhin ist es möglich, die Stromverteilung auf einer Leiterplatte abzuschätzen. Damit können kritische Bereiche lokalisiert werden, die eine hohe Störaussendung hervorrufen können. In diesem Beitrag wird eine Methode zur Identifikation von Strömen in Leitersystemen weiterentwickelt. Dabei werden Ansätze aus der Leitungstheorie verwendet und ein elektrisches Ersatznetzwerk für ein Leitersystem gebildet. Darüber hinaus wird ein iteratives Verfahren vorgestellt, das aufbauend auf der verbesserten Stromidentifikationsmethode in kürzerer Zeit die Felddaten aufnehmen kann. Abschließend werden Ergebnisse vorgestellt, die mit der neuen Methodik an Leiterplatten erzielt wurden. Die Ergebnisse werden diskutiert und mit den Ergebnissen von anderen Methoden vergleichen.