Die Messung der elektromagnetischen Störaussendung elektronischer Geräte ist ein wesentlicher Aspekt im Bereich der elektromagnetischen Verträglichkeit (EMV). In [1] wird die Problematik bei der Betrachtung von elektrisch großen Objekten beschrieben. Es wird darauf verwiesen, dass aktuelle Messverfahren den Charakter unbeabsichtigter Strahler [2] insbesondere für Frequenzen oberhalb 1 GHz nicht korrekt erfassen, da „Unbeabsichtigte Strahler“ die Eigenschaft besitzen, dass die Richtung der maximalen Störaussendung nicht a priori bestimmbar ist. Dies lässt sich durch transiente und stochastische elektronische Prozesse innerhalb der komplexen Leitungsstrukturen des Objekts erklären. Stochastische Ansätze sollen diese Problematik greifbar machen und die vorhandenen Messverfahren dahingehend erweitern. Ein Ansatz zur Beschreibung der maximalen Direktivität von unbeabsichtigten Strahlern wird in [3] vorgestellt. Bezugsgröße für den Verlauf der maximalen Direktivität ist die elektrische Größe ka des Objekts. Diese Ansätze wurden u. a. in [4] schon in Simulationen an generischen Objekten verifiziert. Eine Verifikation anhand von Messungen an realen Objekten steht jedoch noch aus. Dazu wurde in dieser Arbeit die Hauptplatine eines Desktop-PCs ausgewählt. Die Untersuchung von transienten und stochastischen Prozessen ist dabei nicht trivial. Die Wahl des Messgerätes sowie des zu wählenden Modus zur Detektion der Emission werfen Probleme auf, wie z. B. die Nichtdetektion von transienten Signalanteilen. Diese Problematik soll in dieser Arbeit näher beleuchtet werden, so dass eine Empfehlung bezüglich des notwendigen Messverfahrens ausgesprochen werden kann. Schließlich soll anhand der Ergebnisse eine Diskussion über die Größe des EUTs geführt werden, ähnlich wie es in [5] angeregt wurde.