Müllerwiebus, Viki: Systematische Testlücke bei Einstrahlverfahren auf IC-Ebene und deren Behebung. In: emv : Internationale Fachmesse und Kongress für Elektromagnetische Verträglichkeit, Düsseldorf, 2018, S. 608-615
Abstract: | |
Auf IC-Ebene ist bei den einstrahlenden EMV-Tests durch bisher fehlende Einstrahlmöglichkeiten mit E-Feld-Orientierung parallel zur Massefläche des ICs eine systematische Testlücke vorhanden. Diese tritt bereits deutlich unter 1 GHz auf, lediglich bei niedrigen Testfrequenzen im unteren MHz-Bereich nicht. Die Situation zur frühzeitigen Erkennung von EMV-Problemen während der IC-Entwicklung ist unzureichend. Im Bericht wurde detailliert dargelegt, ab welchen Frequenzgrenzen diese systematische Testlücke auftritt sowie ein Testaufbau vorgestellt zum Beheben dieser Testlücke bereits auf IC-Ebene. | |
License of this version: | CC BY 3.0 DE |
Document Type: | BookPart |
Publishing status: | publishedVersion |
Issue Date: | 2018 |
Appears in Collections: | EMV 2018 Düsseldorf |
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