Potentiometrische Charakterisierung von nanolithographisch strukturierten metallischen Drähten auf vizinalem Silizium

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dc.identifier.uri http://dx.doi.org/10.15488/7503
dc.identifier.uri https://www.repo.uni-hannover.de/handle/123456789/7556
dc.contributor.author Rönspies, Jan Paul ger
dc.date.accessioned 2019-11-27T16:59:47Z
dc.date.available 2019-11-27T16:59:47Z
dc.date.issued 2010
dc.identifier.citation Rönspies, Jan Paul: Potentiometrische Charakterisierung von nanolithographisch strukturierten metallischen Drähten auf vizinalem Silizium. Hannover : Gottfried Wilhelm Leibniz Universität, Diss., 2010, 111 S. ger
dc.description.abstract [no abstract] ger
dc.language.iso ger eng
dc.publisher Hannover : Gottfried Wilhelm Leibniz Universität Hannover
dc.rights Es gilt deutsches Urheberrecht. Das Dokument darf zum eigenen Gebrauch kostenfrei genutzt, aber nicht im Internet bereitgestellt oder an Außenstehende weitergegeben werden. ger
dc.subject Pb/Si ger
dc.subject STP ger
dc.subject Lithographie ger
dc.subject.ddc 530 | Physik ger
dc.title Potentiometrische Charakterisierung von nanolithographisch strukturierten metallischen Drähten auf vizinalem Silizium ger
dc.type doctoralThesis ger
dc.type Text ger
dc.relation.urn urn:nbn:de:gbv:089-6415698904
dc.description.version publishedVersion ger
tib.accessRights frei zug�nglich ger


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