Potentiometrische Charakterisierung von nanolithographisch strukturierten metallischen Drähten auf vizinalem Silizium

Originalpublikation

Rönspies, Jan Paul: Potentiometrische Charakterisierung von nanolithographisch strukturierten metallischen Drähten auf vizinalem Silizium. Hannover : Gottfried Wilhelm Leibniz Universität, Diss., 2010, 111 S.

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Publikationstyp: DoctoralThesis
Publikationsstatus: publishedVersion
Erstveröffentlichung: 2010
Schlagwörter (deutsch): Pb/Si, STP, Lithographie
Fachliche Zuordnung (DDC): 530 | Physik

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