Weiterentwicklung der Hintergrundschlierenmethode zu einem quantitativen Verfahren der Vermessung von Dichtefeldern

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Goldhahn, Erik: Weiterentwicklung der Hintergrundschlierenmethode zu einem quantitativen Verfahren der Vermessung von Dichtefeldern. Hannover : Gottfried Wilhelm Leibniz Universität, Diss., 2009, 98 S.

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Publication type: DoctoralThesis
Publishing status: publishedVersion
Publication date: 2009
Keywords german: Schlierentechnik, Hintergrundschlierenmethode, Tomographie, optische Dichtemessung
Keywords english: Schlieren, background oriented schlieren, tomography, optical density measurement
DDC: 620 | Ingenieurwissenschaften und Maschinenbau

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