dc.identifier.uri |
http://dx.doi.org/10.15488/6498 |
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dc.identifier.uri |
https://www.repo.uni-hannover.de/handle/123456789/6550 |
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dc.contributor.author |
Beug, Marc Florian
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ger |
dc.date.accessioned |
2019-11-15T09:24:52Z |
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dc.date.available |
2019-11-15T09:24:52Z |
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dc.date.issued |
2005 |
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dc.identifier.citation |
Beug, Marc Florian: Charakterisierung von EEPROM Tunneloxiden mittels transienter Strom- und Kapazitätsmessungen. Hannover : Universität, Diss., 2004, 200 S. |
ger |
dc.description.abstract |
[no abstract] |
ger |
dc.language.iso |
ger |
eng |
dc.publisher |
Hannover : Universität |
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dc.rights |
Es gilt deutsches Urheberrecht. Das Dokument darf zum eigenen Gebrauch kostenfrei genutzt, aber nicht im Internet bereitgestellt oder an Außenstehende weitergegeben werden. |
ger |
dc.subject |
Oxide bulk traps |
eng |
dc.subject |
transient tunneling |
eng |
dc.subject |
current weighting factors |
eng |
dc.subject.ddc |
620 | Ingenieurwissenschaften und Maschinenbau
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ger |
dc.title |
Charakterisierung von EEPROM Tunneloxiden mittels transienter Strom- und Kapazitätsmessungen |
ger |
dc.type |
DoctoralThesis |
ger |
dc.type |
Text |
ger |
dc.relation.urn |
urn:nbn:de:gbv:089-4865384866 |
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dcterms.extent |
200 S. |
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dc.description.version |
publishedVersion |
ger |
tib.accessRights |
frei zug�nglich |
ger |