Zeitbereichs-Nahfeld-Immunitätsprüfung auf PCB-Ebene

Abstract

Das Nahfeld-Immunitätstestverfahren ist ein zusätzliches diagnostisches Werkzeug, um sensitive Bereiche und Koppelpfade auf Leiterplattenebene zu lokalisieren und zu bewerten. Dabei ist es möglich, mit der entsprechenden Feldsonde die Empfindlichkeit gegenüber elektrischen und magnetischen Feldern separat zu testen. Eine Kalibriermethode wurde entwickelt, um Tests mit definierter Feldstärkeamplitude am Prüfling durchführen zu können. Dies ermöglicht eine reproduzierbare Bewertung des Störvermögens unterschiedlicher Impulsformen. Die Kalibriermethode wurde anhand exakter numerischer Feldsimulationen der Einkopplung in eine Leitung validiert. Die Anwendungsbeispiele veranschaulichen den Zusammenhang zwischen Störwirkung und Störfeldstärke, Repetitionsrate, Sondenposition und Signal-Datenrate anhand des Bitfehlerverhältnisses.