Einfluss der Bordnetznachbildung auf Störfestigkeitsmessverfahren (z.B. BCI) oberhalb 100 MHz

Abstract

Bei Störfestigkeitsmessungen an Automobilelektronik insbesondere im Frequenzbereich oberhalb 100 MHz kommt es vor, dass Prüflinge (DUTs - Device Under Test) trotz standardisierter Messaufbauten und Messmethoden in einem Labor die Anforderungen einhalten, in einem anderen Labor jedoch nicht. Der Beitrag betrachtet diesen Effekt und kommt zu dem Schluss, dass er vom Einfluss der jeweils eingesetzten Bordnetznachbildung (LISN) verursacht wird. Folgende Themen werden anhand von Prinzipschaltbildern, Abbildungen und Diagrammen eingehend diskutiert: Einsatz von LISNs innerhalb und außerhalb ihrer Spezifikation (Messkette und Messaufbau, Spezifikation und Kalibrierung, Pass/Fail - liegt es am Prüfling oder am Labor?); Impedanz von LISNs und Kabel (Impedanzen von LISNs, Einfluss der Kabel, DUT - Annahmen zur Simulation, Koppelkapazität zwischen DUT und Messtisch); Simulation des Gesamtaufbaus und Simulationsergebnisse (Koppelzangen, Kabel, DUT und Koppelkapazität, Variationen der LISNs).