Messung der Störfestigkeit integrierter Schaltungen getrennt für das elektrische und magnetische Feld

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dc.identifier.uri http://dx.doi.org/10.15488/4338
dc.identifier.uri https://www.repo.uni-hannover.de/handle/123456789/4377
dc.contributor.author Pfennig, Stephan
dc.contributor.author Langer, Gunter
dc.date.accessioned 2019-01-23T13:04:23Z
dc.date.available 2019-01-23T13:04:23Z
dc.date.issued 2018
dc.identifier.citation Pfennig, Stephan; Langer, Gunter: Messung der Störfestigkeit integrierter Schaltungen getrennt für das elektrische und magnetische Feld. In: emv : Internationale Fachmesse und Kongress für Elektromagnetische Verträglichkeit, Düsseldorf, 2018, S. 143-150 ger
dc.description.abstract Es wurde eine neue Methode zur Messung der Störfestigkeit von IC's vorgestellt, die es erlaubt, die Störfestigkeit getrennt für das elektrische und magnetische Feld zu bewerten. Diese Methode verwendet eine definierte Massefläche, einen Distanzring und zwei separate Feldquellen zur Erzeugung des elektrischen bzw. magnetischen Prüffeldes. Das Testboard mit dem IC wird in die Massefläche eingelegt und anschließend eine der Feldquellen unter Verwendung des Distanzringes über dem IC positioniert. Die Höhe des Distanzringes bestimmt dabei den Abstand zwischen der Feldquelle und dem IC. Da sich der IC bei dieser Methode im Nahfeld der Quelle befindet, kann die Messung der Störfestigkeit getrennt für das elektrische und magnetische Feld erfolgen und damit der Störmechanismus näher untersucht werden. Diese Methode bietet sich daher als Ergänzung zur Messung in der TEM-Zelle nach DINEN62132-2 an. Die vorgestellte Methode wurde verwendet, um die Schirmwirkung auf IC-Ebene zu untersuchen. Dabei wurde zwischen der Schirmwirkung gegenüber dem elektrischen und dem magnetischen Feld unterschieden. Im Rahmen der Untersuchungen wurden verschiedene Schirmkonfigurationen und Materialien verwendet. Die gewonnenen Ergebnisse zeigen sehr anschaulich, welche Schirmkonfigurationen zur Schirmung elektrischer bzw. magnetischer Felder geeignet sind. eng
dc.language.iso ger
dc.publisher Frankfurt/Main : mesago
dc.relation.ispartof https://doi.org/10.15488/4320
dc.relation.ispartofseries emv : Internationale Fachmesse und Kongress für Elektromagnetische Verträglichkeit, Düsseldorf, 2018
dc.rights CC BY 3.0 DE
dc.rights.uri https://creativecommons.org/licenses/by/3.0/de/
dc.subject elektrisches Feld ger
dc.subject magnetisches Feld ger
dc.subject Distanzring ger
dc.subject Störfestigkeit ger
dc.subject integrierte Schaltung ger
dc.subject Nahfeld ger
dc.subject Messmethode ger
dc.subject Feldquelle ger
dc.subject Massefläche ger
dc.subject.ddc 600 | Technik ger
dc.subject.ddc 621,3 | Elektrotechnik, Elektronik ger
dc.title Messung der Störfestigkeit integrierter Schaltungen getrennt für das elektrische und magnetische Feld
dc.type bookPart
dc.type conferenceObject
dc.type Text
dc.relation.isbn 978-3-95735-077-0
dc.bibliographicCitation.firstPage 143
dc.bibliographicCitation.lastPage 150
dc.description.version publishedVersion
tib.accessRights frei zug�nglich


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