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Ausschaltzeit (1) |
Condition Monitoring (1) |
Durchlassspannung (1) |
Halbleiter (1) |
Insulated Gate Bipolar Transistor (IGBT) (1) |
Junction Temperature (1) |
On-State Voltage (1) |
Sperrschichttemperatur (1) |
Temperature Sensitive Electrical Parameter (TSEP) (1) |
Temperatursensitive Parameter (1) |
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