Weber, Simon
(Hannover : Institutionelles Repositorium der Leibniz Universität Hannover, 2018)
In dieser Arbeit werden die klassischen Alterungsmechanismen Lotschicht- und Bonddraht-Degradation betrachtet. Es wird eine Messschaltung vorgestellt, die dazu in der Lage ist, an einem IGBT-Modul die urchlassspannung und ...