Mikrocontroller werden in modernen IT Netzwerken, der Industrie, Infrastrukturen und vielen weiteren Bereichen eingesetzt und sind heutzutage so leistungsstark, dass an diesen Mikrocontrollern zusätzliche Kühlkörper angebracht werden müssen zur Ableitung der entstehenden Verlustwärme. Die Hersteller dieser Kühlkörper haben viele unterschiedliche Designs entwickelt, um dies möglichst effizient zu gestalten. Jedoch werden die elektromagnetischen Eigenschaften dieser Kühlkörper meist nicht berücksichtigt. So wirken diese als mögliche Antennen und können Störungen in der Funktion des Mikrocontrollers verursachen. In dieser Arbeit soll der Einfluss von Kühlkörpern auf das Ausfallverhalten von ICs untersucht werden. Dazu werden die Kühlkörper, wie von Genender in [3] beschrieben, als unbeabsichtigte Empfänger definiert. Zunächst soll die Richtcharakteristik unterschiedlicher Kühlkörper bestimmt werden. Hierfür sollen diese in der GTEM-Zelle mit einem Netzwerkanalysator untersucht werden. Anschließend soll eine Testschaltung entwickelt werden, die mit und ohne Kühlkörper in der GTEM-Zelle mit elektromagnetischen Feldimpulsen beaufschlagt werden, um den Einfluss von Kühlkörpern auf das Ausfallverhalten von Mikrocontrollern zu untersuchen. In dem folgenden Paper wird auf den Messaufbau und die, aus den Messungen bestimmten, Richtcharakteristiken der Kühlkörper eingegangen. Anschließend wird der Messaufbau der Testschaltung zu Untersuchung des Einflusses der Kühlkörper auf die Ausfallwahrscheinlichkeit von ICs beschrieben und die Ergebnisse präsentiert.