Der testfreundliche Entwurf asynchroner Schaltungen

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Schöber, Volker: Der testfreundliche Entwurf asynchroner Schaltungen. Hannover : Universität, Diss., 2001, 221 S.

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Publikationstyp: DoctoralThesis
Publikationsstatus: publishedVersion
Erstveröffentlichung: 2001
Schlagwörter (englisch): Design for testability, self-timed circuits, built-in self-test, scan design, BIST, LFSR, MISR
Fachliche Zuordnung (DDC): 621,3 | Elektrotechnik, Elektronik, 004 | Informatik

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