Schertlen, Ralph; Scholl, Andrea; Kempe, Achim; Hansen, Jan; Eidher, Roland
(Frankfurt/Main : mesago, 2018)
Bei Störfestigkeitsmessungen an Automobilelektronik insbesondere im Frequenzbereich oberhalb 100 MHz kommt es vor, dass Prüflinge (DUTs - Device Under Test) trotz standardisierter Messaufbauten und Messmethoden in einem ...