Auflistung nach Schlagwort "Kalibrier-Verfahren"

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  • Krause, Mario; Leone, Marco (Berlin : VDE-Verlag, 2014)
    Das Nahfeld-Immunitätstestverfahren ist ein zusätzliches diagnostisches Werkzeug, um sensitive Bereiche und Koppelpfade auf Leiterplattenebene zu lokalisieren und zu bewerten. Dabei ist es möglich, mit der entsprechenden ...