Optische Erfassung von Defekten mittels multiskaliger Mess- und Inspektionstechnik

dc.identifier.uri	http://dx.doi.org/10.15488/8498
dc.identifier.uri	https://www.repo.uni-hannover.de/handle/123456789/8551
dc.contributor.author	Krauß, Moritz	ger
dc.date.accessioned	2019-12-07T16:33:14Z
dc.date.available	2019-12-07T16:33:14Z
dc.date.issued	2015
dc.identifier.citation	Krauß, Moritz: Optische Erfassung von Defekten mittels multiskaliger Mess- und Inspektionstechnik. Hannover : Gottfried Wilhelm Leibniz Universität Hannover, Diss., 2014, v, 125 S.	ger
dc.description.abstract	[no abstract]	ger
dc.language.iso	ger	eng
dc.publisher	Hannover : Gottfried Wilhelm Leibniz Universität Hannover
dc.rights	Es gilt deutsches Urheberrecht. Das Dokument darf zum eigenen Gebrauch kostenfrei genutzt, aber nicht im Internet bereitgestellt oder an Außenstehende weitergegeben werden.	ger
dc.subject	Multi-scale measurement	eng
dc.subject	inspection	eng
dc.subject	3D measurement	eng
dc.subject	image processing	eng
dc.subject	Multiskale Messtechnik	ger
dc.subject	6DOF	ger
dc.subject	Inspektion	ger
dc.subject	Lasertracker	ger
dc.subject	3D Messtechnik	ger
dc.subject	Bildverarbeitung	ger
dc.subject.ddc	620 \| Ingenieurwissenschaften und Maschinenbau	ger
dc.title	Optische Erfassung von Defekten mittels multiskaliger Mess- und Inspektionstechnik	ger
dc.type	DoctoralThesis	ger
dc.type	Text	ger
dc.relation.urn	urn:nbn:de:gbv:089-8381684855
dc.bibliographicCitation.firstPage	v, 125 S.
dcterms.extent	v, 125 S.
dc.description.version	publishedVersion	ger
tib.accessRights	frei zug�nglich	ger

Name: 838168485.pdf

Größe: 62.51Mb

Format: PDF

Die Publikation erscheint in Sammlung(en):

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