Charakterisierungsmethoden und simulationsgestützte Analysen von Silizium Solarzellen

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dc.identifier.uri http://dx.doi.org/10.15488/8336
dc.identifier.uri https://www.repo.uni-hannover.de/handle/123456789/8389
dc.contributor.author Ohrdes, Tobias ger
dc.date.accessioned 2019-12-05T09:09:36Z
dc.date.available 2019-12-05T09:09:36Z
dc.date.issued 2014
dc.identifier.citation Ohrdes, Tobias: Charakterisierungsmethoden und simulationsgestützte Analysen von Silizium Solarzellen. Hannover : Gottfried Wilhelm Leibniz Universität Hannover, Diss., 2014, 211 S. ger
dc.description.abstract [no abstract] ger
dc.language.iso ger eng
dc.publisher Hannover : Gottfried Wilhelm Leibniz Universität Hannover
dc.rights Es gilt deutsches Urheberrecht. Das Dokument darf zum eigenen Gebrauch kostenfrei genutzt, aber nicht im Internet bereitgestellt oder an Außenstehende weitergegeben werden. ger
dc.subject Photoconductance decay eng
dc.subject short-circuit current losses eng
dc.subject back contacted solar cells eng
dc.subject Photoleitfähigkeitsmessungen ger
dc.subject Kurzschlussstromverluste ger
dc.subject Rückkontakt-Solarzellen ger
dc.subject.ddc 530 | Physik ger
dc.title Charakterisierungsmethoden und simulationsgestützte Analysen von Silizium Solarzellen ger
dc.type doctoralThesis ger
dc.type Text ger
dc.relation.urn urn:nbn:de:gbv:089-8131921612
dc.bibliographicCitation.firstPage 211 S.
dc.description.version publishedVersion ger
tib.accessRights frei zug�nglich ger


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