dc.identifier.uri |
http://dx.doi.org/10.15488/8336 |
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dc.identifier.uri |
https://www.repo.uni-hannover.de/handle/123456789/8389 |
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dc.contributor.author |
Ohrdes, Tobias
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ger |
dc.date.accessioned |
2019-12-05T09:09:36Z |
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dc.date.available |
2019-12-05T09:09:36Z |
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dc.date.issued |
2014 |
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dc.identifier.citation |
Ohrdes, Tobias: Charakterisierungsmethoden und simulationsgestützte Analysen von Silizium Solarzellen. Hannover : Gottfried Wilhelm Leibniz Universität Hannover, Diss., 2014, 211 S. |
ger |
dc.description.abstract |
[no abstract] |
ger |
dc.language.iso |
ger |
eng |
dc.publisher |
Hannover : Gottfried Wilhelm Leibniz Universität Hannover |
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dc.rights |
Es gilt deutsches Urheberrecht. Das Dokument darf zum eigenen Gebrauch kostenfrei genutzt, aber nicht im Internet bereitgestellt oder an Außenstehende weitergegeben werden. |
ger |
dc.subject |
Photoconductance decay |
eng |
dc.subject |
short-circuit current losses |
eng |
dc.subject |
back contacted solar cells |
eng |
dc.subject |
Photoleitfähigkeitsmessungen |
ger |
dc.subject |
Kurzschlussstromverluste |
ger |
dc.subject |
Rückkontakt-Solarzellen |
ger |
dc.subject.ddc |
530 | Physik
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ger |
dc.title |
Charakterisierungsmethoden und simulationsgestützte Analysen von Silizium Solarzellen |
ger |
dc.type |
DoctoralThesis |
ger |
dc.type |
Text |
ger |
dc.relation.urn |
urn:nbn:de:gbv:089-8131921612 |
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dc.bibliographicCitation.firstPage |
211 S. |
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dcterms.extent |
211 S. |
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dc.description.version |
publishedVersion |
ger |
tib.accessRights |
frei zug�nglich |
ger |