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Elektronenmikroskopische Untersuchungen an aufgedampften Nickelfilmen : II. Oberflächenrauhigkeit und Orientierung der Filme

Suhrmann, R.; Gerdes, R.; Wedler, G. (Berlin, Boston : De Gruyter, 1963)

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Autor/in
- Gerdes, R. (1)
- Suhrmann, R. (1)
- Wedler, G. (1)
Schlagwort
- Ni-Filme (1)
- Oberflächenabdruck (1)
- Stereoaufnahme (1)
Erscheinungsdatum
- 1963 (1)
Sprache (ISO)
- ger (1)