Potentiometrische Charakterisierung von nanolithographisch strukturierten metallischen Drähten auf vizinalem Silizium

dc.identifier.uri	http://dx.doi.org/10.15488/7503
dc.identifier.uri	https://www.repo.uni-hannover.de/handle/123456789/7556
dc.contributor.author	Rönspies, Jan Paul	ger
dc.date.accessioned	2019-11-27T16:59:47Z
dc.date.available	2019-11-27T16:59:47Z
dc.date.issued	2010
dc.identifier.citation	Rönspies, Jan Paul: Potentiometrische Charakterisierung von nanolithographisch strukturierten metallischen Drähten auf vizinalem Silizium. Hannover : Gottfried Wilhelm Leibniz Universität, Diss., 2010, 111 S.	ger
dc.description.abstract	[no abstract]	ger
dc.language.iso	ger	eng
dc.publisher	Hannover : Gottfried Wilhelm Leibniz Universität Hannover
dc.rights	Es gilt deutsches Urheberrecht. Das Dokument darf zum eigenen Gebrauch kostenfrei genutzt, aber nicht im Internet bereitgestellt oder an Außenstehende weitergegeben werden.	ger
dc.subject	Pb/Si	ger
dc.subject	STP	ger
dc.subject	Lithographie	ger
dc.subject.ddc	530 \| Physik	ger
dc.title	Potentiometrische Charakterisierung von nanolithographisch strukturierten metallischen Drähten auf vizinalem Silizium	ger
dc.type	DoctoralThesis	ger
dc.type	Text	ger
dc.relation.urn	urn:nbn:de:gbv:089-6415698904
dcterms.extent	111 S.
dc.description.version	publishedVersion	ger
tib.accessRights	frei zug�nglich	ger

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Format: PDF

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