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Fast in-situ tool inspection based on inverse fringe projection and compact sensor heads

Matthias, Steffen; Kästner, Markus; Reithmeier, Eduard (Bellingham, Wash. : SPIE, 2016)

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- Kästner, Markus (1)
- Matthias, Steffen (1)
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- Computer aided design (1)
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Erscheinungsdatum
- 2016 (1)
Sprache (ISO)
- eng (1)