Smolinsky, Tim
(Hannover : Institutionelles Repositorium der Leibniz Universität Hannover, 2018)
Die Musterbildung im System Rh(111)/Ni/O2 + H2 wurde im Druckbereich zwischen 10-7 - 10-5 mbar mittels Photoelektronen-Emissions-Mikroskopie (PEEM), der Beugung von niederenergetischen Elektronen (LEED), Auger-Elektronen ...