Noise characterization of a single parameter quantized charge pump
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Originalpublikation
Hohls, F.; Maire, N.; Kaestner, B.; Pierz, K.; Schumacher, H.W.; Haug, R.J.: Noise characterization of a single parameter quantized charge pump. In: AIP Conference Proceedings 1129 (2009), S. 465-468. DOI:
https://doi.org/10.1063/1.3140501
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Zum Zitieren der Version im Repositorium verwenden Sie bitte diesen DOI:
https://doi.org/10.15488/2799
Name:
Hohl et al 2009, ...
Größe:
760.8Kb
Format:
PDF
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Zusammenfassung:
The shot noise of a single parameter quantized charge pump is studied. The pumped current can be varied using a control gate. Quantized current plateaus / = nefp with fp the pumping frequency and e the electron charge are observed. The shot noise is minimal for each current plateau and maximal in between. Interestingly the first expected quantized current plateau at n = 1 is missing for certain control gate voltages. We use the measured shot noise to extract the probabilities for pumping none, one or two electrons at the position of the missing step. These probabilities can be used to characterize the dynamics of the non-adiabatic pumping process. © 2009 American Institute of Physics.
Lizenzbestimmungen:
Es gilt deutsches Urheberrecht. Das Dokument darf zum eigenen Gebrauch kostenfrei genutzt, aber nicht im Internet bereitgestellt oder an Außenstehende weitergegeben werden.
Publikationstyp:
Article
Publikationsstatus:
publishedVersion
Erstveröffentlichung:
2009
Schlagwörter (englisch):
Quantized charge pump
,
Shot noise
,
Single electron effects
Fachliche Zuordnung (DDC):
530 | Physik
Kontrollierte Schlagwörter:
Konferenzschrift
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