Grundlegende Prinzipien, die bei der Makromodellierung von passiven Komponenten und bei der Erstellung der Schaltkreismodelle (SPICE oder VHDL-AMS) in der Zustandsraumform für verschiedene Netzwerkparameter zu berücksichtigen sind, werden beschrieben. Die möglichen Fehler in den gemessenen Datensätzen und den damit möglichen Artefakten in Makromodellen werden diskutiert. Diese Artefakte können in der ursprünglichen Darstellung (z.B. eine Admittanz (Y) oder Streuung (S)) unsichtbar sein, fallen aber nach Umwandlung in eine andere Darstellung (z.B. Impedanz (Z)) deutlich auf und können in folgenden EMV-Simulationen unerwartete Probleme verursachen. Im Tieffrequenzbereich können Fehler durch das Simulieren der Netzwerkparameter mit einem einfachen physikalischen Schaltkreismodell und der anschließenden Verkettung der NF-Simulationsdaten mit den HF-Daten beseitigt werden. Das Verfahren wird an zwei Beispielen für Übertragungsstrecken (eine einfache verdrillte Leitung und ein Transformator für einen DC-DC-Wandler) gezeigt. In beiden Testfällen konnten die besprochenen Schwierigkeiten mit Hilfe von der Verkettung von simulierten NF-Daten und der Auswahl einer passenden Darstellung der Netzwerkparameter für die Makromodellierung behoben werden.