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Mühlbauer, A.; Kappelmeyer, R.; Keiner, F.: Widerstandsfeinstreifungen in tiegelgezogenen Si-Kristallen. In: Zeitschrift für Naturforschung A 20 (1965), S. 1089-1090. DOI: https://doi.org/10.1515/zna-1965-0820
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Sum total of downloads: 65
| Abstract: | |
[no abstract] | |
| License of this version: | CC BY-NC-ND 3.0 Unported |
| Document Type: | Article |
| Publishing status: | publishedVersion |
| Issue Date: | 1965 |
| Appears in Collections: | Fakultät für Elektrotechnik und Informatik |
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| pos. | country | downloads | ||
|---|---|---|---|---|
| total | perc. | |||
| 1 |  |
Germany | 33 | 50.77% |
| 2 |  |
United States | 20 | 30.77% |
| 3 |  |
China | 6 | 9.23% |
| 4 |  |
Czech Republic | 2 | 3.08% |
| 5 |  |
No geo information available | 1 | 1.54% |
| 6 |  |
Taiwan | 1 | 1.54% |
| 7 |  |
Russian Federation | 1 | 1.54% |
| 8 |  |
Indonesia | 1 | 1.54% |
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