Elektronenmikroskopische Untersuchungen an aufgedampften Nickelfilmen : II. Oberflächenrauhigkeit und Orientierung der Filme

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Suhrmann, R.; Gerdes, R.; Wedler, G.: Elektronenmikroskopische Untersuchungen an aufgedampften Nickelfilmen : II. Oberflächenrauhigkeit und Orientierung der Filme. In: Zeitschrift für Naturforschung A 18 (1963), S. 1211-1214. DOI: https://doi.org/10.1515/zna-1963-1110

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Zusammenfassung: 
Die Ausmessung von Stereoaufnahmen der Oberflächenabdrucke von Ni-Filmen führt zu Rauhigkeitsfaktoren in der Größe der aus Adsorptionsmessungen erhaltenen. Die aus Elektronen-Beugungs-aufnahmen der Filme berechnete Gitterkonstante verringert sich mit abnehmender Temperungstemperatur. Die Filme zeigen eine mit zunehmender Temperungstemperatur stärker hervortretende [111]-Orientierung. Filme von etwa 60 Å Schichtdicke lassen keine Textur erkennen. Bei höher getemperten Filmen von ca. 3 μ Dicke werden Kristallite mit {001}-, {011}-, {111}- und {112}-Flächen parallel zur Unterlage nachgewiesen.
Lizenzbestimmungen: CC BY-NC-ND 3.0 Unported
Publikationstyp: Article
Publikationsstatus: publishedVersion
Erstveröffentlichung: 1963
Die Publikation erscheint in Sammlung(en):Naturwissenschaftliche Fakultät

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