Suhrmann, R.; Gerdes, R.; Wedler, G.: Elektronenmikroskopische Untersuchungen an aufgedampften Nickelfilmen : I. Einfluß der Temperung auf die äußere Struktur der Filme. In: Zeitschrift für Naturforschung A 18 (1963), S. 1208-1211. DOI: https://doi.org/10.1515/zna-1963-1109
Zusammenfassung: | |
Ni-Filme von ca. 3 μ, 1,5 μ und 120 bis 560 A Schichtdicke werden im Ultrahochvakuum auf Duranglasplatten bei 293° oder 77°K aufgedampft und ihre Oberfläche im Abdruckverfahren im Elmiskop I abgebildet. Von den dünnen Filmen werden gleichzeitig Durchstrahlungsaufnahmen hergestellt. Die Abhängigkeit der Struktur und der Korngröße von Aufdampf- und Temperungstemperatur wird ermittelt. Die Kristallite werden an der Außenseite im allgemeinen durch Würfel- und Oktaederflächen begrenzt, die häufig parallel zur Filmoberfläche liegen. Von einer Temperungstemperatur von 100°C ab zeigen die Kristallite der bei 77°K aufgedampften Ni-Filme die Tendenz, durch Zusammenwachsen große Kristallite zu bilden. Je dünner der bei 77° oder 293°K aufgedampfte Film ist, um so kleiner sind die beobachteten Kristallite. Die Kontrastverhältnisse bei den Durchstrahlungsaufnahmen werden im wesentlichen nicht durch verschiedene Dicke der Kristallite, sondern durch verschiedenartige BRAGGsche Reflexion hervorgerufen | |
Lizenzbestimmungen: | CC BY-NC-ND 3.0 Unported |
Publikationstyp: | Article |
Publikationsstatus: | publishedVersion |
Erstveröffentlichung: | 1963 |
Die Publikation erscheint in Sammlung(en): | Naturwissenschaftliche Fakultät |
Pos. | Land | Downloads | ||
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Anzahl | Proz. | |||
1 | Germany | 26 | 40,00% | |
2 | United States | 18 | 27,69% | |
3 | China | 8 | 12,31% | |
4 | Russian Federation | 3 | 4,62% | |
5 | Iran, Islamic Republic of | 2 | 3,08% | |
6 | Hungary | 2 | 3,08% | |
7 | Indonesia | 1 | 1,54% | |
8 | United Kingdom | 1 | 1,54% | |
9 | Czech Republic | 1 | 1,54% | |
10 | Canada | 1 | 1,54% | |
andere | 2 | 3,08% |
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