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Keyser, U.F.; Schumacher, H.W.; Zeitler, U.; Haug, R.J.; Eberl, K.: Fabrication of a single-electron transistor by current-controlled local oxidation of a two-dimensional electron system. In: Applied Physics Letters 76 (2000), Nr. 4, S. 457-459. DOI: https://doi.org/10.1063/1.125786
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Summe der Downloads: 158
| Zusammenfassung: | |
The surface layers of a GaAs/AlGaAs heterostructure are locally oxidized using an atomic force microscope. The local anodic oxidation depletes the underlying two-dimensional electron gas leading to the formation of tunneling barriers. The height of the barriers is determined by measuring the thermally activated current. By varying the oxidation current, the barrier heights can be tuned between a few meV and more than 100 meV. Using these barriers as tunneling elements, a side gated single-electron transistor is fabricated. © 2000 American Institute of Physics. | |
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| Publikationstyp: | Article |
| Publikationsstatus: | publishedVersion |
| Erstveröffentlichung: | 2000 |
| Die Publikation erscheint in Sammlung(en): | Fakultät für Mathematik und Physik |
Verteilung der Downloads über den gewählten Zeitraum:
Herkunft der Downloads nach Ländern:
| Pos. | Land | Downloads | ||
|---|---|---|---|---|
| Anzahl | Proz. | |||
| 1 |  |
Germany | 71 | 44,94% |
| 2 |  |
United States | 31 | 19,62% |
| 3 |  |
China | 11 | 6,96% |
| 4 |  |
United Kingdom | 6 | 3,80% |
| 5 |  |
Iran, Islamic Republic of | 4 | 2,53% |
| 6 |  |
India | 3 | 1,90% |
| 7 |  |
Japan | 2 | 1,27% |
| 8 |  |
Ireland | 2 | 1,27% |
| 9 |  |
France | 2 | 1,27% |
| 10 |  |
Canada | 2 | 1,27% |
| andere | 24 | 15,19% | ||
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