Schneider, Daniel; Böttcher, Martin; Köhler, Wolfgang; Tenbohlen, Stefan
(Berlin : VDE-Verlag, 2014)
Zur Einsparung von Kosten durch elektromagnetische Verträglichkeit (EMV)-Entwicklungsmessungen sind alternative Messmethoden gefragt, die das zu beobachtende elektrische Feld während eines Komponententest nach klassischen ...