Characterization of crystalline silicon based on measurements of the photoluminescence emission

dc.identifier.uri	http://dx.doi.org/10.15488/8084
dc.identifier.uri	https://www.repo.uni-hannover.de/handle/123456789/8137
dc.contributor.author	Herlufsen, Sandra	ger
dc.date.accessioned	2019-12-03T06:24:35Z
dc.date.available	2019-12-03T06:24:35Z
dc.date.issued	2013
dc.identifier.citation	Herlufsen, Sandra: Characterization of crystalline silicon based on measurements of the photoluminescence emission. Hannover : Gottfried Wilhelm Leibniz Universität Hannover, Diss, 2013, 165 S.	ger
dc.description.abstract	[no abstract]	ger
dc.language.iso	eng	eng
dc.publisher	Hannover : Gottfried Wilhelm Leibniz Universität Hannover
dc.rights	Es gilt deutsches Urheberrecht. Das Dokument darf zum eigenen Gebrauch kostenfrei genutzt, aber nicht im Internet bereitgestellt oder an Außenstehende weitergegeben werden.	ger
dc.subject	Charge carrier lifetime	eng
dc.subject	photoluminescence	eng
dc.subject	silicon	eng
dc.subject	Ladungsträgerlebensdauer	ger
dc.subject	Photolumineszenz	ger
dc.subject	Silicium	ger
dc.subject.ddc	530 \| Physik	ger
dc.title	Characterization of crystalline silicon based on measurements of the photoluminescence emission	eng
dc.type	DoctoralThesis	ger
dc.type	Text	ger
dc.relation.urn	urn:nbn:de:gbv:089-7735702095
dc.bibliographicCitation.firstPage	165 S.
dcterms.extent	165 S.
dc.description.version	publishedVersion	ger
tib.accessRights	frei zug�nglich	ger

Name: 773570209.pdf

Größe: 23.13Mb

Format: PDF

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