dc.identifier.uri |
http://dx.doi.org/10.15488/8571 |
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dc.identifier.uri |
https://www.repo.uni-hannover.de/handle/123456789/8624 |
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dc.contributor.author |
Schinke, Carsten Jonathan
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ger |
dc.date.accessioned |
2019-12-08T10:06:21Z |
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dc.date.available |
2019-12-08T10:06:21Z |
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dc.date.issued |
2015 |
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dc.identifier.citation |
Schinke, Carsten Jonathan: Uncertainty of the coefficient of band-to-band absorption of crystalline silicon. Hannover : Gottfried Wilhelm Leibniz Universität Hannover, Diss., 2015, VIII, 165 S. |
ger |
dc.description.abstract |
[no abstract] |
ger |
dc.language.iso |
eng |
eng |
dc.publisher |
Hannover : Gottfried Wilhelm Leibniz Universität Hannover |
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dc.rights |
Es gilt deutsches Urheberrecht. Das Dokument darf zum eigenen Gebrauch kostenfrei genutzt, aber nicht im Internet bereitgestellt oder an Außenstehende weitergegeben werden. |
ger |
dc.subject |
Crystalline silicon |
eng |
dc.subject |
absorption coefficient |
eng |
dc.subject |
measurement uncertainty analysis |
eng |
dc.subject |
Kristallines Silizium |
ger |
dc.subject |
Absorptionskoeffizient |
ger |
dc.subject |
Messunsicherheitsanalyse |
ger |
dc.subject.ddc |
530 | Physik
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ger |
dc.title |
Uncertainty of the coefficient of band-to-band absorption of crystalline silicon |
eng |
dc.type |
DoctoralThesis |
ger |
dc.type |
Text |
ger |
dc.relation.urn |
urn:nbn:de:gbv:089-8325915642 |
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dc.bibliographicCitation.firstPage |
VIII, 165 S. |
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dcterms.extent |
VIII, 165 S. |
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dc.description.version |
publishedVersion |
ger |
tib.accessRights |
frei zug�nglich |
ger |