Strong-field double ionization of Ar below the recollision threshold

Originalpublikation

Liu, Y.; Tschuch, S.; Rudenko, A.; Dürr, M.; Siegel, M. et al.: Strong-field double ionization of Ar below the recollision threshold. In: Physical Review Letters 101 (2008), Nr. 5, 53001. DOI: https://doi.org/10.1103/PhysRevLett.101.053001

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Name: Liu et al 2008, ...
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Zusammenfassung:
Nonsequential double ionization of Ar by 45 fs laser pulses (800 nm) at (4-7)×1013W/cm2 was explored in fully differential measurements. Well below the field-modified recollision threshold we enter the multiphoton regime. Strongly correlated back-to-back emission of the electrons along the polarization direction is observed to dominate in striking contrast to all previous data. No effect of Coulomb repulsion can be found, the predicted cutoff in the sum-energy spectra of two emitted electrons is confirmed, and the potential importance of multiple recollisions is discussed. © 2008 The American Physical Society.
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Publikationstyp: Article
Publikationsstatus: publishedVersion
Erstveröffentlichung: 2008
Schlagwörter (englisch): Atoms, Emission spectroscopy, Ionization, Ionization of gases, Laser pulses, Pulsed laser applications, Coulomb repulsions, Double ionization, En ergy spectrum, Fs laser pulses, Fully differential, Multiphoton regimes, Nonsequential double ionization, Polarization directions, Recollision, Argon
Fachliche Zuordnung (DDC): 530 | Physik

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