Strong-field double ionization of Ar below the recollision threshold

Originalpublikation

Liu, Y.; Tschuch, S.; Rudenko, A.; Dürr, M.; Siegel, M. et al.: Strong-field double ionization of Ar below the recollision threshold. In: Physical Review Letters 101 (2008), Nr. 5, 53001. DOI: https://doi.org/10.1103/PhysRevLett.101.053001

Version im Repositorium

Zum Zitieren der Version im Repositorium verwenden Sie bitte diesen DOI: https://doi.org/10.15488/3296

Thumbnail
Name: Liu et al 2008, ...
Größe: 402.6Kb
Format: PDF
Öffnen
Zusammenfassung:
Nonsequential double ionization of Ar by 45 fs laser pulses (800 nm) at (4-7)×1013W/cm2 was explored in fully differential measurements. Well below the field-modified recollision threshold we enter the multiphoton regime. Strongly correlated back-to-back emission of the electrons along the polarization direction is observed to dominate in striking contrast to all previous data. No effect of Coulomb repulsion can be found, the predicted cutoff in the sum-energy spectra of two emitted electrons is confirmed, and the potential importance of multiple recollisions is discussed. © 2008 The American Physical Society.
Lizenzbestimmungen: Es gilt deutsches Urheberrecht. Das Dokument darf zum eigenen Gebrauch kostenfrei genutzt, aber nicht im Internet bereitgestellt oder an Außenstehende weitergegeben werden.
Publikationstyp: article
Publikationsstatus: publishedVersion
Erstveröffentlichung: 2008
Schlagworte (englisch): Atoms, Emission spectroscopy, Ionization, Ionization of gases, Laser pulses, Pulsed laser applications, Coulomb repulsions, Double ionization, En ergy spectrum, Fs laser pulses, Fully differential, Multiphoton regimes, Nonsequential double ionization, Polarization directions, Recollision, Argon
Fachliche Zuordnung (DDC): 530 | Physik

Downloadstatistik

Zur Langanzeige

Die Publikation erscheint in Sammlung(en):

 

Suche im Repositorium


Durchblättern

Mein Nutzer/innenkonto

Nutzungsstatistiken